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物理測(cè)試設(shè)備
TECHNICAL ARTICLES
晶閘管測(cè)試儀用于測(cè)試晶閘管及其相關(guān)元件的參數(shù)
在使用晶閘管測(cè)試儀時(shí),需要注意以下事項(xiàng)
可控硅控制器常見(jiàn)問(wèn)題與對(duì)策
KT35三相觸發(fā)板使用參數(shù)
晶閘管測(cè)試儀設(shè)備特點(diǎn)有沒(méi)有人想知道
產(chǎn)品展示/ Product display
可控硅測(cè)試儀特點(diǎn)如下:采用了鎖相控制的模擬—數(shù)字觸發(fā)電路。相序自適應(yīng)功能,調(diào)試時(shí)不用找相序。具有上電封鎖和脈沖封鎖輸入功能。
2024-09-03
生產(chǎn)廠家
2387
晶閘管關(guān)斷時(shí)間測(cè)試儀用于測(cè)試可控硅的關(guān)斷時(shí)間,數(shù)字顯示測(cè)試結(jié)果,自動(dòng)完成測(cè)試。
2025-09-09
1730
晶閘管測(cè)試儀用于測(cè)試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的斷態(tài)電壓臨界上升率dV/dt。數(shù)字顯示斷態(tài)峰值電壓VDM。
2024-09-01
2434
晶閘管測(cè)試儀用于測(cè)試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅、可控硅模塊的通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM
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晶閘管測(cè)試儀用于測(cè)試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅、可控硅模塊的通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM。整流管的正向峰值電流IFM和峰值壓降VFM。
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